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PCT高溫高壓老化試驗箱磁性材料高溫高壓試驗箱測試說明:

用于評估非氣密包裝裝置在水蒸氣冷凝或飽和水蒸氣環境中抵抗水蒸氣的完整性。樣品在高壓下處于冷凝和高濕度的環境中，使得水蒸氣可以進入封裝，暴露封裝中的薄弱點，如分層和金屬化腐蝕。該測試用于評估新包裝結構或包裝中材料和設計的更新。需要注意的是，本次測試中會出現一些與實際應用不一致的內部或外部失效機制。由于吸收的水蒸氣會降大多數高分子材料的玻璃化轉變溫度，當溫度高于玻璃化轉變溫度時，可能會出現不真實的失效模式。

外部引線錫短路:封裝外部引線因潮濕產生的電離效應，會引起離子遷移異常增長，導致引線間短路。濕氣引起的封裝內部腐蝕:封裝過程中濕氣引起的裂紋給芯片表面帶來外部離子污染，經過保護層針孔、裂紋、缺陷涂層等表面缺陷后。，它進入半導體原件，造成腐蝕和漏電流等。如果施加偏置電壓，則容易發生故障。

PCT高溫高壓老化試驗箱磁性材料高溫高壓試驗箱產品技術參數:
控制方式:微機控制
內箱尺寸:(mm) φ 240× D440



時間控制:發光二極管顯示
加壓時間:約45分鐘內0.00 kg ~ 1.04 kgcm2
壓力范圍:0 ~ 2.5kg/cm2；(內桶設計耐壓為3.5公斤/平方厘米)
壓力波動:0.02公斤
試驗條件:溫度121℃，飽和蒸汽壓1.04千帕2，
縱向上，祖ˇ終的維度都以實物為準。
時間范圍:000小時~ 999小時

PCT高溫高壓老化試驗箱磁性材料高溫高壓試驗箱符合標準:
1、IEC60068-2-66
2、JESD22-A102-B
3、EIAJED4701
4、環評/JESD22
5、GB/T2423、40-1997